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經(jīng)濟(jì)型顆粒計(jì)數(shù)及粒度分析儀
點(diǎn)擊次數(shù)：1595 更新時(shí)間：2014-11-10
儀器應(yīng)用庫爾特原理（電子感應(yīng)區(qū)原理），顆粒計(jì)數(shù)及粒度分析儀通過顆粒個(gè)體體積測(cè)量分析整體樣品的粒度分布與顆粒數(shù)目（體積當(dāng)量粒徑），達(dá)到一種“三維”和“個(gè)體”兼?zhèn)涞臏y(cè)量能力，實(shí)現(xiàn)可測(cè)量顆粒真是的粒徑分布，一次分析即可獲得*的分辨率和高度的準(zhǔn)確性，并且數(shù)目的測(cè)量達(dá)到zui高度的準(zhǔn)確度預(yù)計(jì)性。歷經(jīng)半個(gè)多世紀(jì)的考驗(yàn)，為一致*的粒度儀。亦為一致認(rèn)可的粒徑分析標(biāo)準(zhǔn)參考方法。
顆粒計(jì)數(shù)及粒度分析儀技術(shù)特點(diǎn)：
-數(shù)字脈沖處理技術(shù)DPP
-可測(cè)量樣品分布和濃度
-符合ASTM和ISO標(biāo)準(zhǔn)
-采用庫爾特原理
-微軟窗口平臺(tái)設(shè)計(jì)
1947年庫爾特發(fā)明了以電阻變化法測(cè)量顆粒和細(xì)胞粒度及數(shù)目的庫爾特原理（COULTERPRINCIPLE）。的庫爾特原理：懸浮在弱電解液中的顆粒隨電解液通過小孔管時(shí)，因取代相同體積的電解液，顆粒計(jì)數(shù)及粒度分析儀在恒電流設(shè)計(jì)的電路中導(dǎo)致小孔管內(nèi)外兩電極間電阻發(fā)生瞬時(shí)變化，產(chǎn)生電位脈沖。脈沖信號(hào)的大小和次數(shù)與顆粒的大小和數(shù)目成正比。
