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技術(shù)的ZETA電位儀已于2007年10月*
點(diǎn)擊次數(shù)：3107 更新時(shí)間：2007-12-06
惟一擁有高濃度zeta電位測(cè)量技術(shù)，并且同時(shí)也是已知的惟一的可實(shí)現(xiàn)固體和薄膜表面zeta電位測(cè)量的技術(shù)的型的儀器----delsanano已于2007年10月在北京的bceia上*并亮相。
該臺(tái)采用fst技術(shù)由美國貝克曼庫爾特公司出品的zeta 電位儀及納米粒度分析儀為顆粒特性的表征提供的手段，又一次為材料分析領(lǐng)域帶來了技術(shù)突破。同時(shí)亦成為美國貝克曼庫爾特公司在顆粒特性分析儀器領(lǐng)域始終處于的注腳。
欲了解更多關(guān)于技術(shù)的delsanano的相關(guān)特性及參數(shù)，請(qǐng)立即貝克曼庫爾特公司顆粒特性分析部門于各地的代表處或?yàn)g覽：www.coultercoulter.com或www.instrument.com.cn/netshow/sh100336
該臺(tái)采用fst技術(shù)由美國貝克曼庫爾特公司出品的zeta 電位儀及納米粒度分析儀為顆粒特性的表征提供的手段，又一次為材料分析領(lǐng)域帶來了技術(shù)突破。同時(shí)亦成為美國貝克曼庫爾特公司在顆粒特性分析儀器領(lǐng)域始終處于的注腳。
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